亚洲国产成人精品久久久国产成人一区二区三区综合区精品久久久中文字幕一区,国产a一级无码毛片一区二区三区,久久久无码,国产成人无码精品久免费,精品欧美国产一区二区三区不卡,国产成人一区二区三区影院,国产精品久久久久久,欧美日韩精品一区二区三区,欧美日韩在线精品一区二区三区激情福利综合,在线观看亚洲精品福利片,亚洲欧美日韩久久精品,亚洲欧美日韩国产成人精品,亚洲国产欧美日韩精品一区二区三区,欧美日韩国产成人高清视频

首頁 > 檢測中心 > 功率器件 > 材料 >

缺陷檢測與分析

clip_image002.jpg

設(shè)備:光學(xué)缺陷分析設(shè)備Candela CS920/ SICA 88

廠商:美國 KLA-Tencor Corporation/日本 Lasertec Corporation

用途:SiC/GaN/Si基板和外延(epi)晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng),可同時(shí)測量散射強(qiáng)度、形狀變化、表面反射率和相位轉(zhuǎn)移,為特征缺陷(DOI)進(jìn)行自動(dòng)偵測與分類。

技術(shù)指標(biāo):

l  檢測缺陷尺寸>0.1μm

l  最大樣品尺寸:6inch Wafer

l  超過30DOI的缺陷分類


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 傳真:0769-23078230

0
?

備案號(hào):粵ICP備2023038869號(hào)

首頁
電話
郵件
聯(lián)系
吴旗县| 嘉善县| 闽清县| 茂名市| 寻乌县| 搜索| 英德市| 中江县| 黑龙江省| 高邮市| 玉龙| 新河县| 祁阳县| 泗水县| 嘉荫县| 汨罗市| 武陟县| 石门县| 长子县| 遂昌县| 阳西县| 剑川县| 沅陵县| 密云县| 梁平县| 黔西县| 沅陵县| 塘沽区| 卫辉市| 秦安县| 阳西县| 吉林省| 玉山县| 河东区| 饶平县| 陇西县| 常德市| 广东省| 上蔡县| 五常市| 沁水县|